Общество с ограниченной ответственностью «МЕТРИКА»
620137, г. Екатеринбург, ул. Волховская, д. 20, эт. 1, оф. 113

+7 (343) 287-29-72
metrica-rf.ru



ИНН/КПП: 6670316360/667001001

ООО «Банк Точка»

БИК 044525104

К/с: 30101810400000000225

Р/с: 40702810602270001359


Многофункциональный дефектоскоп OmniScan MX PA
Артикул:   не указано
Госреестр (ГРСИ):   не указано

Гарантия:   1 год
Страна производителя:   США
Производитель:   OLYMPUS
В наличии:   отсутствует

Под заказ
В наличии:   отсутствует

Многофункциональный дефектоскоп OmniScan MX PA с фазированными решетками.

Фазированные решётки:

При использовании метода контроля фазированными решётками генерируется ультразвуковой луч с настраиваемыми углом ввода, фокусным расстоянием и размером фокусного пятна. При этом также можно настроить генерирование луча в разных секторах фазированной решётки. Эти функции открывают целый ряд новых возможностей. Например, можно быстро изменить параметры угла и изменить направление сканирования, не передвигая датчик. Таким образом, эта технология заменяет собой целую гамму датчиков и даже некоторые механические компоненты. При контроле лучом с переменным углом коэффициент обнаружения дефектов, как правило, выше вне зависимости от их ориентации. При этом соотношение сигнал-шум остаётся оптимальным.

Особенности и преимущества фазированных решёток:

  • Программное управление углом луча, фокальным расстоянием и размером электронного пятна
  • Контроль одним маленьким многоэлементным датчиком под разными углами
  • Большая гибкость в контроле объектов со сложной геометрией
  • Высокоскоростное сканирование без механических приспособлений

Дефектоскоп OmniScan PA (ФР) создан на базе OmniScan UT (УЗ) и позволяет представлять результаты контроля в виде A-скана, B-скана и C-скана.

Полномасштабное секторное сканирование:

  • Представление данных в реальном времени с объёмной поправкой
  • Частота обновления от 20 до 40 Г

Усовершенствованная обработка данных в реальном времени:

  • Интерполяция данных в реальном времени для улучшения пространственного представления дефектов
  • Определяемые пользователем высоко- и низкочастотные фильтры для повышения качества отображения А-скана
  • Функция проекции, позволяющая просматривать вертикально расположенный А-скан одновременно с изображением секторной развёртки

Процедуры и параметры калибровки:

Все калибровочные процедуры сопровождаются пошаговой настройкой с возможностью перехода вперёд и назад по настройке.

Мастера настройки для групп и законов фокусировки:

  • Мастер настройки группы позволяет ввести все параметры датчика, объекта контроля и луча и сгенерировать все законы фокусировки за один приём
  • Пошаговая настройка помогает не упустить важные параметры
  • Интерактивная справка даёт общую информацию о настраиваемых параметрах

Сложные группы:

Теперь можно использовать более одного датчика с двумя разными конфигурациями: разные углы разворота, типы сканирования, области контроля и т.п.

Возможные конфигурации для контроля сложными группами.

Один датчик с фазированной решёткой из 64 или более элементов и 2 разные группы:

  • Линейное сканирование на 45º для захвата верхней части с отражением от донной поверхности
  • Линейное сканирование на 60º для захвата нижней части

Один датчик с фазированной решёткой из 64 или 128 элементов и 2 разные группы:

  • Линейное сканирование на 0º с минимальным усилением
  • Линейное сканирование на 0º с высоким усилением

Один датчик с фазированной решёткой из 64 или 128 элементов и 3 разные группы:

  • Линейное сканирование на 45º для захвата верхней части с отражением от донной поверхности
  • Линейное сканирование на 60º для захвата нижней части
  • Секторное сканирование от 35º до 70º для повышения вероятности обнаружения дефекта

Два датчика с фазированной решёткой из 16 или 64 элементов и 2 разные группы:

  • Секторное сканирование от 35º до 70º для контроля левой части объекта с отражением от донной поверхности
  • Секторное сканирование от 35º до 70º для контроля правой части объекта с отражением от донной поверхности

Модели дефектоскопа OmniScan MX PA на фазированных решетках:

  • Дефектоскоп OmniScan MX PA 16:16
  • Дефектоскоп OmniScan MX PA 16:16M
  • Дефектоскоп OmniScan MX PA 16:64M
  • Дефектоскоп OmniScan MX PA 32:32
  • Дефектоскоп OmniScan MX PA 32:128

------------------------------------------------

Менеджеры компании «МЕТРИКА» подберут для вас наиболее подходящее оборудование в сжатые сроки и на комфортных условиях. Наша команда проводит метрологический аутсорсинг полного цикла с высокой точностью и в полном соответствии с требованиями и стандартами. Мы осуществляем ремонт эталонного оборудования, зарубежных средств измерений (в том числе тех, что находятся под санкциями). Наши специалисты готовы проконсультировать вас по любым интересующим вопросам.

 

 

Характеристики

Размеры (Ш×В×Г)

244×182×57 мм

Вес

1,2 кг

Разъёмы

1 разъём OmniScan для ФР-датчиков

2 разъёма BNC (1 генератор/приёмник, 1 приёмник для обычного УЗ) (BNC отсутствует на моделях 32:32 и 32:128)

Количество законов фокусировки

256

Распознавание датчика

Автоматическое распознавание и конфигурация датчика

Генератор/Приёмник

Апертура

16 элементов*

Количество элементов

128 элементов

Генератор

Напряжение

80 В на элемент

Длительность импульса

Настраивается от 30 нс до 500 нс, разрешение 2,5 нс

Время затухания

менее 10 нс

Форма импульса

Отрицательный прямоугольный импульс

Выходное сопротивление

менее 25 Ом

Приёмник

Коэффициент усиления

от 0 дБ до 74 дБ, максимальный входной сигнал 1,32 Вp-p

Входное полное сопротивление

75 Ом

Полоса пропускания

от 0,75 до 18 МГц (-3 дБ)

Формирование луча

Тип сканирования

Азимутальный и линейный

Количество проходов

до 8

Активных элементов

16*

Элементов

128

Диапазон задержки передачи

от 0 мкс до 10 мкс с шагом 2,5 нс

Диапазон задержки приёма

от 0 мкс до 10 мкс с шагом 2,5 нс

Сбор данных

Частота оцифровки

100 МГц (10 бит)

Максимальная ЧЗИ

До 10 кГц (C-скан)

Глубина в материале

29 м в стали (продольная волна), 10 мс со сжатием. 0,24 м в стали (продольная волна), 81,9 мс без сжатия

Обработка данных

Количество записываемых значений

до 8000

Усреднение в реальном времени

2, 4, 8, 16

Детектирование

Радиосигнал, полная волна, полуволна «+», полуволна «-»

Фильтр

Низкочастотный (настроен на частоту датчика), цифровая фильтрация (полоса пропускания, частотный диапазон)

Фильтрация видео

Сглаживание (скорректировано по диапазону частоты датчика)

Запись данных

Запись А-скана (TOFD)

6000 A-сканов в секунду (512-точечный, 8-битный A-скан)

Запись С-сканов

I, A, B, до 10 кГц (амплитуда или время пролёта)

Максимальный размер файла

Ограничен размером внутренней флэш-памяти: 180 Мб или 300 Мб (опция)

Визуализация данных

Частота обновления A-скана

В реальном времени: 60 Гц

Скорректированный по объёму S-скан

до 40 Гц

Синхронизация данных

Внутренний генератор синхронизирующих импульсов

от 1 Гц до 10 кГц

По кодировщику

На 1 или 2 осях

Программируемое TCG (скорректированное по времени усиление)

Количество точек

16 (1 кривая TCG на канал для законов фокусировки)

Сигнализации

Количество сигнализаций

3

Условия

Любая логическая комбинация стробов

Аналоговые выходы

2

Ваш отзыв
Пожалуйста, оцените по 5 бальной шкале
0 отзывов
    Заявка на метрологическое обслуживание и ремонт вашего оборудование
    Похожие товары
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-60
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-60 Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-60 Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1212 MАСТЕР
    Ультразвуковой дефектоскоп А1212 MАСТЕР Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1212 MАСТЕР Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1214 ЭКСПЕРТ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1214 ЭКСПЕРТ Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1214 ЭКСПЕРТ Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-50 IPS
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-50 IPS Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-50 IPS Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УД2-70
    Ультразвуковой дефектоскоп УД2-70 Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УД2-70 Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УД2-102 Пеленг
    Ультразвуковой дефектоскоп УД2-102 Пеленг Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УД2-102 Пеленг Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1211 Mini
    Ультразвуковой дефектоскоп А1211 Mini Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп А1211 Mini Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-46
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-46 Артикул: не указан
    Под заказ
    Ультразвуковой дефектоскоп УСД-46 Артикул: не указан
    Под заказ