Общество с ограниченной ответственностью «МЕТРИКА»
620137, г. Екатеринбург, ул. Волховская, д. 20, эт. 1, оф. 113

+7 (343) 287-29-72
metrica-rf.ru



ИНН/КПП: 6670316360/667001001

ООО «Банк Точка»

БИК 044525104

К/с: 30101810400000000225

Р/с: 40702810602270001359


Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic T8000
Артикул:   не указано
Госреестр (ГРСИ):   не указано

Гарантия:   1 год
Страна производителя:   Германия
Производитель:   JENOPTIK (Hommel-Etamic)
В наличии:   отсутствует

Под заказ
В наличии:   отсутствует

Hommel-Etamic Т8000 - это лабораторный прибор для контроля шероховатости и контура поверхности.

Предназначен для определения большинства параметров шероховатости по действующим в настоящее время стандартам и расчет специальных параметров.

Функциональные характеристики Hommel-Etamic T8000

Модульная конструкция прибора позволяет максимально точно подобрать комплектацию прибора с учетом задач заказчика и производить одновременные измерения шероховатости и профиля поверхности. Обеспечивает хранение неограниченного числа измерительных программ и протоколов. Возможность использования любых принтеров, поддерживаемых Windows. Возможность сопряжения со всеми программами Windows, напр. Winword, Excel, Write, Access и т.д. Имеется возможность контроля микро- и макропрофилей, а также определения топографии поверхности.

------------------------------------------------

«МЕТРИКА» гарантирует высокое качество поставляемого оборудования и услуг по его поверке, ремонту и калибровке. С 2015 года нашими клиентами являются предприятия и лаборатории по всей России, поэтому отлично знаем особенности сферы своей работы. Мы всегда учитываем пожелания: предлагаем различные формы оплаты, заключение договоров по форме заказчика, предоставляем персонального менеджера для постоянных клиентов. Будем рады ответить на ваши вопросы.

 

 

Характеристики

Принцип измерения

контактный, с применением опорных и безопорных щупов

Класс точности по DIN4772

Класс 1 (3%)

Диапазон измерения/разрешение

± 8 мкм / 1 нм

 

± 80 мкм / 10 нм

 

± 800 мкм / 100 нм

 

± 8000 мкм / 1000 нм

Единицы измерения

Переключаемые мкм/мкдюйм

Применяемые фильтры:

 

отсечка шага

0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (мм),

 

выбираемая

DIN 4768

RC дискретно вычисляемый (мм),

 

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

DIN EN ISO 11562, часть 1, (50% Гаусс)

Гаусс (М1) цифровой фильтр (мм),

 

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

DIN EN ISO 13565-1

Двойной Гаусс (М2), Rk-параметры

 

предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

ISO 3274/11562

Предельная длина коротких волн лs

 

выбор по ступеням λc / λs 30; 100; 300

Скорость трассирования vt

lt - заданная 0,05; 0,15; 0,5 мм/с

 

или переменная 0,01 - 2,0 мм/с на 0,01 ступени

Длина трассирования lt

0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 мм или переменная от до 0,1 - 200 мм

Длина оценки lm

0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 мм или переменная отсечка предельной длины волн

Отсечка шага λ [мм]

0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8

Измеряемые параметры шероховатости

 

DIN EN ISO 4287

Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api

по DIN EN ISO 13565

Rk parameters Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo (70 %) 0.01*Rv / Rk

Профильные параметры по DIN EN ISO 4287

Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%; Pdc

Параметры волнистости по DIN EN ISO 4287

Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc

Параметры волнистости по VDA 2007

WD1c; WD1t; WD1sm; WD2c; WD2t; WD2sm

Параметры Motif по DIN EN ISO 12085

R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Pδ c (CR, CL, CF)

Статистика

от 1 до 999 измерений, диапазон, макс., мин., отклонение

Режимы работы

Измерение шероховатости, проведение измерений, дистанционное управление, юстировка, разработка программ, топография

Выравнивание профиля

инверсия, грубое. точное, частичное

Подключаемые периферийные устройства:

Механизмы подачи wavelineTM 20 / 60 / 120 / 200

 

Моторизованные колонны wavelift 400 / wavelift 800

 

Поворотная опора wavetilt 60 / 120 / 200

 

Датчики измерения контура: индуктивный, цифровой, сканирующий

 

топография поверхности: устройство позиционирования по оси Y

 

поворотный модуль waverotor RV150 для трассирования колец вдоль образующей

Электропитание

100 В - 120 В / 200 В - 240 В, переключаемое, 50 - 60 Гц, 235 ВА

Рабочая температура

+5 °C От до +40 °C, относительная влажность воздуха макс. 85% без конденсата, (ΔТ=2ºС/ч)

Температура хранения

-20 °C От до +50 °C

Ваш отзыв
Пожалуйста, оцените по 5 бальной шкале
0 отзывов
    Заявка на метрологическое обслуживание и ремонт вашего оборудование
    Похожие товары
    Измеритель шероховатости TR110
    Измеритель шероховатости TR110 Артикул: не указан
    Под заказ
    Измеритель шероховатости TR110 Артикул: не указан
    Под заказ
    Измеритель шероховатости TR220
    Измеритель шероховатости TR220 Артикул: не указан
    Под заказ
    Измеритель шероховатости TR220 Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилемер ELCOMETER 224
    Профилемер ELCOMETER 224 Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилемер ELCOMETER 224 Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилометр Surftest SJ-301 MITUTOYO
    Профилометр Surftest SJ-301 MITUTOYO Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилометр Surftest SJ-301 MITUTOYO Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилометр Surftest SJ-210
    Профилометр Surftest SJ-210 Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилометр Surftest SJ-210 Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилометр Surftest SJ-400 (SJ-401 и SJ-402) MITUTOYO
    Профилометр Surftest SJ-400 (SJ-401 и SJ-402) MITUTOYO Артикул: не указан
    Под заказ
    Профилометр Surftest SJ-400 (SJ-401 и SJ-402) MITUTOYO Артикул: не указан
    Под заказ